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控制芯片的瞬时故障注入方法及装置
摘要文本
本公开涉及一种控制芯片的瞬时故障注入方法及装置。该方法包括：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。本申请涉及的控制芯片的瞬时故障注入方法及装置，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。。 （来源 专利查询网）
申请人信息
- 申请人:北京芯思维科技有限公司
- 申请人地址:100093 北京市海淀区瀚河园25号楼2层01-205
- 发明人: 北京芯思维科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 控制芯片的瞬时故障注入方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202310454758.1 |
| 申请日 | 2023/4/25 |
| 公告号 | CN117539214A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G05B23/02 |
| 权利人 | 北京芯思维科技有限公司 |
| 发明人 | 苏笑添; 张楠; 刘治强 |
| 地址 | 北京市海淀区瀚河园25号楼2层01-205 |
专利主权项内容
1.一种控制芯片的瞬时故障注入方法，其特征在于，包括：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。