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一种测力装置和测力系统
摘要文本
本发明公开了一种测力装置和测力系统，涉及测力技术领域，以解决将电磁信号换算为压力信号的过程中，因换算造成测量误差，影响测量精度的问题。所述测力装置包括：壳体，测力结构贯穿壳体的第一开口端，且可移动地设置于壳体内，测力结构用于测量开设有孔的构件的地应力值。顶推结构贯穿壳体的第二开口端，且可移动地设置于壳体内，顶推结构用于使测力结构抵接或远离孔的内壁。采集结构设置于壳体内，与测力结构电连接或通信连接，采集结构用于采集测力结构测量的地应力值。测力前，测力结构与孔的内壁间隔分布。测力时，顶推结构和测力结构抵接，以使测力结构与孔的内壁抵接。本发明还提供了一种测力系统，包括上述技术方案所述的测力装置。 来源：百度搜索专利查询网
申请人信息
- 申请人:中国地质科学院地质力学研究所; 金川集团股份有限公司
- 申请人地址:100081 北京市海淀区民族学院南路11号
- 发明人: 中国地质科学院地质力学研究所; 金川集团股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测力装置和测力系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311603496.7 |
| 申请日 | 2023/11/28 |
| 公告号 | CN117629484A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01L5/00 |
| 权利人 | 中国地质科学院地质力学研究所; 金川集团股份有限公司 |
| 发明人 | 张士安; 刘卫东; 杨波; 吴满路 |
| 地址 | 北京市海淀区民族学院南路11号; 甘肃省金昌市金川区北京路 |
专利主权项内容
1.一种测力装置，其特征在于，包括：壳体；测力结构，所述测力结构贯穿所述壳体的第一开口端，且可移动地设置于所述壳体内；所述测力结构用于测量开设有孔的构件的地应力值；顶推结构，所述顶推结构贯穿所述壳体的第二开口端，且可移动地设置于所述壳体内；所述顶推结构用于使所述测力结构抵接或远离所述孔的内壁；采集结构，设置于所述壳体内，与所述测力结构电连接或通信连接；所述采集结构用于采集所述测力结构测量的所述地应力值；测力前，所述测力结构与所述孔的内壁间隔分布；测力时，所述顶推结构和所述测力结构抵接，以使所述测力结构与所述孔的内壁抵接。