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一种超低频强次声校准装置
摘要文本
本发明公开了一种超低频强次声校准装置，包括超低频振动台系统、强次声发生器、压力传感器和测控系统；超低频振动台系统包括振动台和信号发生器，信号发生器产生频率0.001Hz～20Hz的超低频正弦信号，驱动振动台产生正弦振动；强次声发生器包括腔体和活塞，活塞与振动台连接，活塞在振动台的正弦振动的驱动下产生往复正弦运动，压缩腔体中的空气产生次声信号；压力传感器采集强次声发生器的腔体内的压力信号，被校次声传感器采集腔体内的次声信号；测控系统采集压力传感器和被校次声传感器的输出，通过进行计算和比较，实现被校次声传感器的校准。本发明通过对次声传感器进行比较法校准，能够解决超低频强次声传感器的溯源问题。
申请人信息
- 申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
- 申请人地址:100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱
- 发明人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种超低频强次声校准装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311566895.0 |
| 申请日 | 2023/11/22 |
| 公告号 | CN117629390A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01H17/00 |
| 权利人 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 发明人 | 徐佳; 张炳毅; 杨亦春; 张宸文 |
| 地址 | 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱 |
专利主权项内容
1.一种超低频强次声校准装置，其特征在于，包括超低频振动台系统、强次声发生器、压力传感器和测控系统；所述超低频振动台系统包括振动台和信号发生器，所述信号发生器产生频率0.001Hz～20Hz的超低频正弦信号，驱动所述振动台产生正弦振动；所述强次声发生器包括腔体和活塞，所述活塞与所述振动台连接，所述活塞在所述振动台的正弦振动的驱动下产生往复正弦运动，压缩所述腔体中的空气产生次声信号；所述压力传感器和被校次声传感器安装在所述强次声发生器上，所述压力传感器用于采集所述强次声发生器的腔体内的压力信号，被校次声传感器用于采集腔体内的次声信号；所述测控系统用于采集所述压力传感器和被校次声传感器的输出，通过进行计算和比较，实现被校次声传感器的校准。