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光子数测量模拟方法、装置、设备以及存储介质
摘要文本
本公开提供了一种光子数测量模拟方法、装置、设备以及存储介质，涉及计算机技术领域，应用于量子计算场景。具体实现方案为：将高斯态的一阶表征矩阵和二阶表征矩阵，代入中间变量公式，得到中间变量，以及将一阶表征矩阵和二阶表征矩阵，代入零态概率公式，得到零态概率。根据线性索引与张量索引之间的映射关系，针对Hermite递推多项式中待计算的各目标元素的在后线性索引，确定用于计算任一目标元素的参考元素所属的在先线性索引，在先线性索引与在后线性索引对应的张量索引之间满足设定规则。进而，将中间变量和各参考元素代入Hermite递推多项式，得到一维向量中的各目标元素。根据一维向量中的各目标元素和零态概率，进行采样，以得到采样分布结果。
申请人信息
- 申请人:北京百度网讯科技有限公司
- 申请人地址:100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦二层
- 发明人: 北京百度网讯科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光子数测量模拟方法、装置、设备以及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311332606.0 |
| 申请日 | 2023/10/13 |
| 公告号 | CN117391209A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G06N10/20 |
| 权利人 | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 发明人 | 刘立峥 |
| 地址 | 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层 |
专利主权项内容
1.一种光子数测量模拟方法，包括：获取高斯态的一阶表征矩阵和二阶表征矩阵；将所述一阶表征矩阵和所述二阶表征矩阵，代入中间变量公式，得到中间变量，以及将所述一阶表征矩阵和所述二阶表征矩阵，代入零态概率公式，得到零态概率；根据线性索引与张量索引之间的映射关系，针对Hermite递推多项式中待计算的各目标元素的在后线性索引，确定用于计算任一所述目标元素的参考元素所属的在先线性索引，其中，所述在先线性索引对应的张量索引与所述在后线性索引对应的张量索引之间满足设定规则；将所述中间变量和各所述参考元素代入所述Hermite递推多项式，得到Hermite张量压缩后的一维向量中的各目标元素；根据所述一维向量中的各目标元素和所述零态概率，进行采样，以得到采样分布结果。 数据由马 克 团 队整理