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消减热漫散射和非弹性散射的扫描透射衍射方法及装置
摘要文本
本申请涉及一种消减热漫散射和非弹性散射的扫描透射衍射方法及装置,其中,方法包括:采集二维样品平面内规律排列或随机分布的扫描点的会聚束衍射信息,并根据会聚束衍射信息得到包含有扫描位置和扫描位置对应衍射信息的实验数据;根据实验数据计算位置平均的会聚束衍射,并在实验数据中每个扫描位置减去会聚束衍射,得到数据集;在四维扫描透射衍射分析或叠层成像的重构过程中减去会聚束衍射,使得利用数据集进行分析或重构,获得样品的结构信息,以消减实验数据中热漫散射和非弹性散射的贡献。由此,解决了相关技术中,由于热漫散射和非弹性散射对叠层成像技术的影响,导致重构过程存在误差,降低了结构分析精度和厚样品的叠层重构效率等问题。
申请人信息
- 申请人:清华大学
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园1号
- 发明人: 清华大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 消减热漫散射和非弹性散射的扫描透射衍射方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311450660.5 |
| 申请日 | 2023/11/2 |
| 公告号 | CN117491400A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01N23/20058 |
| 权利人 | 清华大学 |
| 发明人 | 于荣; 崔吉哲; 郑怡 |
| 地址 | 北京市海淀区清华大学 |
专利主权项内容
1.一种消减热漫散射和非弹性散射的扫描透射衍射方法,其特征在于,包括以下步骤:采集二维样品平面内规律排列或随机分布的扫描点的会聚束衍射信息,并根据所述会聚束衍射信息得到包含有扫描位置和扫描位置对应衍射信息的实验数据;根据所述实验数据计算位置平均的会聚束衍射,并在所述实验数据中每个扫描位置减去所述会聚束衍射,得到数据集;在四维扫描透射衍射分析或叠层成像的重构过程中,减去所述会聚束衍射,使得利用所述数据集进行分析或重构,获得样品的结构信息,以消减实验数据中热漫散射和非弹性散射的贡献。