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土壤有机质检测方法、装置及其系统
摘要文本
本发明提供一种土壤有机质检测方法、装置及其系统，属于土壤检测技术领域，所述方法包括：根据第一土壤压片的原子发射光谱确定待测土壤中的总碳含量，根据第二土壤压片的分子吸收光谱确定待测土壤中的无机碳含量，根据总碳含量和无机碳含量最终确定待测土壤中的有机质含量。本发明基于碳元素和无机碳分别在原子发射光谱和分子吸收光谱上所呈现的明确特性，通过将原子发射光谱和分子吸收光谱技术联用，以不同光源对不同土壤压片进行烧蚀或照射，获取土壤中的总碳含量和无机碳含量，计算得到有机质含量，针对不同区域的土壤，无需依赖大量样本构建有机质含量反演模型，提高了检测方法的普适性和移植性，降低了土壤有机质检测的时间成本和人力成本。 详见官网：
申请人信息
- 申请人:北京市农林科学院智能装备技术研究中心
- 申请人地址:100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107
- 发明人: 北京市农林科学院智能装备技术研究中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 土壤有机质检测方法、装置及其系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311789117.8 |
| 申请日 | 2023/12/25 |
| 公告号 | CN117491343A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01N21/71 |
| 权利人 | 北京市农林科学院智能装备技术研究中心 |
| 发明人 | 田宏武; 董大明; 杨桂燕; 马世祥; 王跃亭; 邢振; 刘帅 |
| 地址 | 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107 |
专利主权项内容
1.一种土壤有机质检测方法，其特征在于，包括：根据第一土壤压片的原子发射光谱，确定待测土壤中的总碳含量；所述第一土壤压片是对待测土壤进行取样后制备得到的；根据第二土壤压片的分子吸收光谱，确定待测土壤中的无机碳含量；所述第二土壤压片是对所述待测土壤进行取样后并混合预设比例的透射样品后制作得到的；根据所述总碳含量和所述无机碳含量之间的差值，确定所述待测土壤中的有机碳含量；根据所述有机碳含量，确定所述待测土壤中的有机质含量。