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一种测温系统的噪声水平检测方法及装置
摘要文本
本申请实施例提供一种测温系统的噪声水平测试方法及装置，测温系统包括布设于特定温度场中的多个测温器件，方法包括：获取任意两个测温器件采集的温度信号；根据所述温度信号，计算两个测温器件的自功率谱密度和互功率谱密度；根据所述自功率谱密度和互功率谱密度，计算两个测温器件在特定频点的相干系数；根据所述相干系数，计算两个测温器件在所述特定频点的信噪比关系；根据所述信噪比关系，确定两个测温器件在所述特定频点的信噪比估计值，从而基于信噪比估计值评估测温器件在特定温度场中的噪声水平，为特定温度场的高精度测温器件的设计和验证提供依据。
申请人信息
- 申请人:中国地震局地震预测研究所
- 申请人地址:100036 北京市海淀区复兴路63号
- 发明人: 中国地震局地震预测研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测温系统的噪声水平检测方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311604300.6 |
| 申请日 | 2023/11/28 |
| 公告号 | CN117630515A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01R29/26 |
| 权利人 | 中国地震局地震预测研究所 |
| 发明人 | 王晓蕾; 朱小毅; 崔仁胜; 薛兵; 张兵; 吴旭; 高尚华; 李江; 陈阳 |
| 地址 | 北京市海淀区复兴路63号 |
专利主权项内容
1.一种测温系统的噪声水平检测方法，其特征在于，所述测温系统包括布设于特定温度场中的多个测温器件，所述方法包括：获取任意两个测温器件采集的温度信号；根据所述温度信号，计算两个测温器件的自功率谱密度和互功率谱密度；根据所述自功率谱密度和互功率谱密度，计算两个测温器件在特定频点的相干系数；根据所述相干系数，计算两个测温器件在所述特定频点的信噪比关系；根据所述信噪比关系，确定两个测温器件在所述特定频点的信噪比估计值。