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一种测试用例执行的约简与优化方法、装置、介质及设备
摘要文本
本发明提供一种测试用例执行的约简与优化方法、装置、介质及设备，收集每个测试用例对程序文件中各代码单元的覆盖次数；采用核密度估计算法计算每个测试用例所遍历的代码单元的覆盖密度：计算每个测试用例对程序文件中各代码单元的覆盖强度，得到代码单元覆盖强度矩阵；量化计算代码单元覆盖优先级；利用分裂层次聚类方法对测试用例集中的测试用例进行簇划分并保存簇划分过程；提取满足第一预设条件的目标簇划分集合形成簇内队列；从各簇内队列取一测试用例形成簇间队列；从簇间队列取出至少一个测试用例并执行。本发明对于测试用例的特征描述更准确，可依据用户需求灵活配置测试用例簇，对提升软件持续集成开发效率，降低研发成本具有积极作用。
申请人信息
- 申请人:中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
- 申请人地址:100048 北京市海淀区紫竹院路66号
- 发明人: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测试用例执行的约简与优化方法、装置、介质及设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311161198.7 |
| 申请日 | 2023/9/8 |
| 公告号 | CN117370151A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心) |
| 发明人 | 刘云龙 |
| 地址 | 北京市海淀区紫竹院路66号 |
专利主权项内容
1.一种测试用例执行的约简与优化方法，其特征在于，包括：收集每个测试用例对程序文件中各代码单元的覆盖次数；采用核密度估计算法计算每个测试用例所遍历的代码单元的覆盖密度：基于覆盖密度和覆盖次数计算每个测试用例对程序文件中各代码单元的覆盖强度，得到代码单元覆盖强度矩阵；基于代码单元覆盖强度矩阵，量化计算代码单元覆盖优先级；基于代码单元覆盖强度矩阵，利用分裂层次聚类方法对测试用例集中的测试用例进行簇划分并保存簇划分过程；提取簇划分过程中满足第一预设条件的目标簇划分集合；将目标簇划分集合中每个簇内测试用例进行簇内优先级排序形成簇内队列；从各簇内队列取一测试用例，基于代码单元覆盖优先级排序形成簇间队列。