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一种微处理器芯片的通用测试装置
摘要文本
本申请公开了一种微处理器芯片的通用测试装置，包括测试子板、测试底板及T800数字测试机台，所述测试子板的形状为多模态，每一种模态均包括一个测试座，每一个测试座可匹配一组引脚数量相同的待测微处理器芯片；通过所述测试子板上的测试座将待测微处理器芯片固定，并将待测微处理器芯片的引脚连接到测试底板；所述测试底板上方连接所述测试子板、下方连接所述T800数字测试机台的资源引出板，所述测试底板根据STM32F407IGTX芯片的引脚分布规则设置176个引脚资源，并引出连接至所述T800数字测试机台的资源引出板；所述T800数字测试机台与待测微处理器芯片之间使用串口通信。
申请人信息
- 申请人:北京中天星控科技开发有限公司
- 申请人地址:100190 北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906
- 发明人: 北京中天星控科技开发有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微处理器芯片的通用测试装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311655128.7 |
| 申请日 | 2023/12/5 |
| 公告号 | CN117632611A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 北京中天星控科技开发有限公司 |
| 发明人 | 胡文懿; 陈小波 |
| 地址 | 北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906 |
专利主权项内容
1.一种微处理器芯片的通用测试装置，其特征在于，包括测试子板、测试底板及T800数字测试机台，其中：所述测试子板的形状为多模态，每一种模态均包括一个测试座，每一个测试座可匹配一组引脚数量相同的待测微处理器芯片；通过所述测试子板上的测试座将待测微处理器芯片固定，并将待测微处理器芯片的引脚连接到测试底板；所述测试底板上方连接所述测试子板、下方连接所述T800数字测试机台的资源引出板，所述测试底板包括根据STM32F407IGTX芯片的引脚分布规则设置176个引脚资源，并引出连接至所述T800数字测试机台的资源引出板；所述资源引出板引出所述T800数字测试机台的测试资源；所述T800数字测试机台与待测微处理器芯片之间使用串口通信，所述串口可自动下载测试程序和擦除程序，对待测微处理器芯片进行直流参数、交流参数及芯片功能的测试。。更多数据：