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一种元数据一致性测试方法
摘要文本
本发明公开了一种元数据一致性测试方法,包括获取元数据和待测试元数据,对所述元数据进行预处理,对所述元数据进行第一特征提取和第二特征提取,获得第一特征数据和第二特征数据,根据所述第一特征数据构建第一测试模型,根据所述第二特征数据构造第二测试模型,根据所述第一特征数据和第二特征数据获取测试差异系数,若所述差异系数小于阈值,则选择第一测试模型进行一致性测试,反之选择第二测试模型进行一致性测试,输出测试结果。该方法不仅可以提高元数据一致性测试方法的精度,同时具有较好的可解释性,可以直接应用于元数据一致性测试系统中。
申请人信息
- 申请人:中国标准化研究院
- 申请人地址:100191 北京市海淀区知春路4号
- 发明人: 中国标准化研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种元数据一致性测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311558241.3 |
| 申请日 | 2023/11/21 |
| 公告号 | CN117609393A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G06F16/28 |
| 权利人 | 中国标准化研究院 |
| 发明人 | 高亮; 岳高峰; 王志强; 温娜 |
| 地址 | 北京市海淀区知春路4号 |
专利主权项内容
1.一种元数据一致性测试方法,其特征在于,包括以下步骤:获取元数据和待测试元数据,对所述元数据进行预处理;对所述元数据进行第一特征提取和第二特征提取,获得第一特征数据和第二特征数据;根据所述第一特征数据构建第一测试模型,根据所述第二特征数据构造第二测试模型;根据所述第一特征数据和第二特征数据获取测试差异系数,若所述差异系数小于阈值,则选择第一测试模型进行一致性测试;所述测试差异系数的计算公式为:其中类别s的测试差异系数为第一特征数据V的一致性关联系数为γ,第二特征数据Q的一致性关联系数为γ,第一特征数据V的一致性数量为e,第二特征数据Q的一致性数量为c,第一特征数据V的一致性数据第s个类别的数量为V,第二特征数据的一致性数据第s个类别的数量为Q,一致性变化系数为ρ;12ss反之选择第二测试模型进行一致性测试,输出测试结果。