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一种元数据一致性测试方法

申请号: CN202311558241.3
申请人: 中国标准化研究院
申请日期: 2023/11/21

摘要文本

本发明公开了一种元数据一致性测试方法,包括获取元数据和待测试元数据,对所述元数据进行预处理,对所述元数据进行第一特征提取和第二特征提取,获得第一特征数据和第二特征数据,根据所述第一特征数据构建第一测试模型,根据所述第二特征数据构造第二测试模型,根据所述第一特征数据和第二特征数据获取测试差异系数,若所述差异系数小于阈值,则选择第一测试模型进行一致性测试,反之选择第二测试模型进行一致性测试,输出测试结果。该方法不仅可以提高元数据一致性测试方法的精度,同时具有较好的可解释性,可以直接应用于元数据一致性测试系统中。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种元数据一致性测试方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311558241.3
申请日 2023/11/21
公告号 CN117609393A
公开日 2024/2/27
IPC主分类号 G06F16/28
权利人 中国标准化研究院
发明人 高亮; 岳高峰; 王志强; 温娜
地址 北京市海淀区知春路4号

专利主权项内容

1.一种元数据一致性测试方法,其特征在于,包括以下步骤:获取元数据和待测试元数据,对所述元数据进行预处理;对所述元数据进行第一特征提取和第二特征提取,获得第一特征数据和第二特征数据;根据所述第一特征数据构建第一测试模型,根据所述第二特征数据构造第二测试模型;根据所述第一特征数据和第二特征数据获取测试差异系数,若所述差异系数小于阈值,则选择第一测试模型进行一致性测试;所述测试差异系数的计算公式为:其中类别s的测试差异系数为第一特征数据V的一致性关联系数为γ,第二特征数据Q的一致性关联系数为γ,第一特征数据V的一致性数量为e,第二特征数据Q的一致性数量为c,第一特征数据V的一致性数据第s个类别的数量为V,第二特征数据的一致性数据第s个类别的数量为Q,一致性变化系数为ρ;12ss反之选择第二测试模型进行一致性测试,输出测试结果。