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控制芯片的单次瞬时故障注入方法及装置
摘要文本
本公开涉及一种控制芯片的单次瞬时故障注入方法及装置。该方法包括:确定待进行测试的控制芯片的注入参数;确定待进行测试的控制芯片的目标信号;控制所述控制芯片运行在预设状态;基于所述注入参数对所述控制芯片的所述目标信号进行单次瞬时故障注入;在单次瞬时故障注入成功时,停止注入。本申请涉及的控制芯片的单次瞬时故障注入方法及装置,能够准确检测到单点故障,提升检测准确度,还能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率,从而减少无效故障仿真次数,提高故障仿真效率。
申请人信息
- 申请人:北京芯思维科技有限公司
- 申请人地址:100093 北京市海淀区瀚河园25号楼2层01-205
- 发明人: 北京芯思维科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 控制芯片的单次瞬时故障注入方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202310454791.4 |
| 申请日 | 2023/4/25 |
| 公告号 | CN117539215A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G05B23/02 |
| 权利人 | 北京芯思维科技有限公司 |
| 发明人 | 苏笑添; 张楠; 刘治强 |
| 地址 | 北京市海淀区瀚河园25号楼2层01-205 |
专利主权项内容
1.一种控制芯片的单次瞬时故障注入方法,其特征在于,包括:确定待进行测试的控制芯片的注入参数;确定待进行测试的控制芯片的目标信号;控制所述控制芯片运行在预设状态;基于所述注入参数对所述控制芯片的所述目标信号进行单次瞬时故障注入;在单次瞬时故障注入成功时,停止注入。