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基于FPGA测试平台的测试用例推荐方法
摘要文本
本公开涉及一种基于FPGA测试平台的测试用例推荐方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：获取待测FPGA软件的需求文档，对所述需求文档进行关键信息提取，以生成测试关键点梳理表；根据所述测试关键点梳理表中的中每个测试类型下的关键字、关键信息，查询预存的对应关系，以确定匹配的测试用例集；其中，所述对应关系包括测试用例和数据库中历史测试信息的关系；根据所述匹配的测试用例集，进行所述待测FPGA软件的测试。根据本公开的技术方案，能够降低测试成本，提高测试效率。
申请人信息
- 申请人:航天中认软件测评科技(北京)有限责任公司
- 申请人地址:100195 北京市海淀区闵庄路3号玉泉慧谷21号楼一层01室
- 发明人: 航天中认软件测评科技(北京)有限责任公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于FPGA测试平台的测试用例推荐方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311279645.9 |
| 申请日 | 2023/9/28 |
| 公告号 | CN117407288A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 航天中认软件测评科技(北京)有限责任公司 |
| 发明人 | 赵琪; 赵国亮; 汪锋; 张世伟; 连雪飞; 王盈心; 史安博 |
| 地址 | 北京市海淀区闵庄路3号玉泉慧谷21号楼一层01室 |
专利主权项内容
1.一种基于FPGA测试平台的测试用例推荐方法，其特征在于，包括：获取待测FPGA软件的需求文档，对所述需求文档进行关键信息提取，以生成测试关键点梳理表；根据所述测试关键点梳理表中的中每个测试类型下的关键字、关键信息，查询预存的对应关系，以确定匹配的测试用例集；其中，所述对应关系包括测试用例和数据库中历史测试信息的关系；根据所述匹配的测试用例集，进行所述待测FPGA软件的测试。