← 返回列表
验证计划中覆盖对象的匹配方法、存储介质及电子设备
摘要文本
本发明涉芯片验证领域，特别是涉及一种验证计划中覆盖对象的匹配方法、存储介质及电子设备，其通过对用户设计的不同层次创建索引数据库，并抽取验证计划中所有的区域表达式；根据区域表达式生成数据匹配模式，所述匹配模式包括覆盖对象的基本信息和不同层次的匹配条件；根据覆盖对象的名称和覆盖对象类型在索引数据库中查找满足匹配条件的所有覆盖对象的唯一标识id，通过覆盖对象的唯一标识id获取覆盖率数据，能够根据用户指定的区域表达式在用户设计中快速找到覆盖对象。
申请人信息
- 申请人:北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
- 申请人地址:100193 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室
- 发明人: 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 验证计划中覆盖对象的匹配方法、存储介质及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311274509.0 |
| 申请日 | 2023/9/28 |
| 公告号 | CN117331827A |
| 公开日 | 2024/1/2 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司 |
| 发明人 | 汤杰; 高波; 金俏慧 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室; 上海市浦东新区友诚路149号SK大厦29层; 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰二路266号18栋1单元6楼602号 |
专利主权项内容
1.一种验证计划中覆盖对象的匹配方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：P100，根据用户设计获取索引数据库，所述用户设计包括不同层次的覆盖对象，所述索引数据库包括用户设计中不同层次的覆盖对象的索引文件，每个层次的覆盖对象对应一个索引文件；每个层次的索引文件中包括覆盖对象的名称、覆盖对象的类型和覆盖对象的唯一标识id；P200，获取用户设计的验证计划，抽取验证计划中所有的区域表达式；根据区域表达式生成数据匹配模式，所述数据匹配模式包括覆盖对象的基本信息和不同层次的匹配条件，其中匹配条件包括覆盖对象类型、匹配方式和匹配规则，所述基本信息包括动作指令；P300，根据覆盖对象的名称和覆盖对象类型在索引数据库中查找满足匹配条件的所有覆盖对象的唯一标识id，通过覆盖对象的唯一标识id获取覆盖率数据。 来源：马 克 数 据 网