← 返回列表
磁盘阵列卡测试方法、装置和计算机设备
摘要文本
本申请涉及一种磁盘阵列卡测试方法、装置和计算机设备。该方法应用于服务器,包括:服务器响应于磁盘阵列卡测试指令,通过执行预先部署的自动化测试工具,获取至少一种类型的待测磁盘阵列卡对应的管理工具,然后通过执行各管理工具对每种类型的待测磁盘阵列卡进行硬盘组建,得到各待测磁盘阵列卡对应的硬盘阵列组,最后对各待测磁盘阵列卡对应的硬盘阵列组进行测试,得到各待测磁盘阵列卡的测试结果。采用本方法能够简化磁盘阵列卡的测试流程,进而降低对磁盘阵列卡的测试难度和测试时间。。微信公众号专利查询网
申请人信息
- 申请人:宁畅信息产业(北京)有限公司
- 申请人地址:100089 北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园一期27号楼C座二层201号
- 发明人: 宁畅信息产业(北京)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 磁盘阵列卡测试方法、装置和计算机设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311344630.6 |
| 申请日 | 2023/10/17 |
| 公告号 | CN117472664A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 宁畅信息产业(北京)有限公司 |
| 发明人 | 马博岩; 秦晓宁; 陈颖; 王添 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺西路8号院25号楼3层335 |
专利主权项内容
1.一种磁盘阵列卡测试方法,其特征在于,应用于服务器,所述方法包括:响应于磁盘阵列卡测试指令,通过执行预先部署的自动化测试工具,获取至少一种类型的待测磁盘阵列卡对应的管理工具;通过执行各所述管理工具对每种类型的待测磁盘阵列卡进行硬盘组建,得到各所述待测磁盘阵列卡对应的硬盘阵列组;对各所述待测磁盘阵列卡对应的硬盘阵列组进行测试,得到各所述待测磁盘阵列卡的测试结果。 百度搜索马 克 数 据 网