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一种叶片气膜孔测量和评价方法
摘要文本
本发明公开了一种叶片气膜孔测量和评价方法，包括：利用复合测量射线坐标机对叶片气膜孔进行测量，得到叶片气膜孔的测量点云数据；对叶片气膜孔MBD模型文件进行解析，建立叶片气膜孔的理论设计参数表；基于解析建立的叶片气膜孔理论设计参数表，对叶片气膜孔的测量点云数据进行自动分割，得到叶片中每个气膜孔的实测点云数据；基于自动分割后的叶片气膜孔实测点云数据，进行气膜孔圆柱面的拟合和评价，得到气膜孔的几何参数。本发明能够实现叶片气膜孔的高精度测量和气膜孔几何参数的自动评价。 该数据由<专利查询网>整理
申请人信息
- 申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
- 申请人地址:100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱
- 发明人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种叶片气膜孔测量和评价方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311584849.3 |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN117629117A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01B15/00 |
| 权利人 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 发明人 | 蔡项宇; 何小妹; 王一璋; 马鹏谋 |
| 地址 | 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱 |
专利主权项内容
1.一种叶片气膜孔测量和评价方法，其特征在于，包括：利用复合测量射线坐标机对叶片气膜孔进行测量，得到叶片气膜孔的测量点云数据；对叶片气膜孔MBD模型文件进行解析，建立叶片气膜孔的理论设计参数表；基于解析建立的叶片气膜孔理论设计参数表，对叶片气膜孔的测量点云数据进行自动分割，得到叶片中每个气膜孔的实测点云数据；基于自动分割后的叶片气膜孔实测点云数据，进行气膜孔圆柱面的拟合和评价，得到气膜孔的几何参数。