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一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置
摘要文本
本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤：将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压，计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响，提高辐射温度测量准确性。。详见官网：
申请人信息
- 申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
- 申请人地址:100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱
- 发明人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311443478.7 |
| 申请日 | 2023/11/1 |
| 公告号 | CN117490859A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01J5/80 |
| 权利人 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 发明人 | 张学聪; 李丹; 高一凡; 蔡静; 路海晶; 任佳 |
| 地址 | 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱 |
专利主权项内容
1.一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法，所述辐射温度计具有探测器，其特征在于，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程：其中：A、B、C为待定系数；c为第二普朗克辐射常数，c＝1.4388×10m·K；22-2T表示目标温度；aT表示环境温度；bT表示标准环境温度；0V表示辐射温度计输出电压；V表示辐射温度计零点电压；0r表示探测器响应度的温漂修正系数；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数A、B、C；测试步骤：将求解得到的系数A、B、C代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压V，如下计算出目标温度T：a其中，ε表示目标发射率。a （更多数据，详见马克数据网）