← 返回列表
一种大尺寸非接触测量设备校准用曲面标准器及校准方法
摘要文本
本发明公开了一种大尺寸非接触测量设备校准用曲面标准器以及校准方法,曲面标准器包括二次曲面体、水平位移平台、竖直升降架,二次曲面体包括凹曲面面板和凸曲面面板,凹曲面面板和凸曲面面板的外边缘布设有均匀分布的标准球,凹曲面面板、凸曲面面板和标准球的表面均经过哑光处理;水平位移平台用于在水平方向上调整待校准的测量设备与二次曲面体的距离,水平位移平台的安装方向指向二次曲面体的中心方向;竖直升降架安装在水平位移平台上,能够沿水平方向进行位移,竖直升降架用于安装测量设备并使测量设备沿竖直方向进行位置调整,保证测量设备与二次曲面体之间的对中关系。本发明能够实现大尺寸非接触测量设备的轮廓扫描测量误差校准。
申请人信息
- 申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
- 申请人地址:100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱
- 发明人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种大尺寸非接触测量设备校准用曲面标准器及校准方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311639009.2 |
| 申请日 | 2023/12/1 |
| 公告号 | CN117664025A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01B11/24 |
| 权利人 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 发明人 | 王继虎; 孙安斌; 乔磊; 王鲁涛; 曹铁泽; 樊晶晶; 高廷; 张伟 |
| 地址 | 北京市海淀区温泉镇环山村 |
专利主权项内容
1.一种大尺寸非接触测量设备校准用曲面标准器,其特征在于,包括二次曲面体、水平位移平台、竖直升降架,所述二次曲面体包括转动台、安装背架、标准球、凹曲面面板、凸曲面面板,所述转动台能够实现360°转动,所述安装背架的底部与所述转动台连接,上方的前后两面分别与所述凹曲面面板和凸曲面面板连接固定,用以将所述凹曲面面板和凸曲面面板同心固定在同一轴线上,所述凹曲面面板和凸曲面面板的外边缘布设有均匀分布的标准球,所述凹曲面面板、凸曲面面板和标准球的表面均经过哑光处理;所述水平位移平台用于在水平方向上调整待校准的测量设备与二次曲面体的距离,所述水平位移平台的安装方向指向所述二次曲面体的中心方向;所述竖直升降架安装在所述水平位移平台上,能够沿水平方向进行位移,所述竖直升降架用于安装所述测量设备并使所述测量设备沿竖直方向进行位置调整,保证所述测量设备与二次曲面体之间的对中关系。