量子设备性能验证方法及装置、电子设备和介质

专利主权项内容

1.一种量子设备性能验证方法，包括：执行第一操作，其中所述第一操作包括以下步骤：通过所述量子设备生成由第一量子系统和第二量子系统共享的两比特量子态；从预设的多个验证方案中随机选择一个方案对所述两比特量子态进行测量，以获得相应的测量结果；响应于确定所述第一量子系统和所述第二量子系统上的测量结果均符合预期结果、且所述第一操作的执行次数未超过预设次数，重复执行所述第一操作；以及响应于执行所述第一操作预设次数后所获得的测量结果均符合预期结果，确定所述量子设备能够生成符合要求的两比特量子态，其中，所述多个验证方案包括：第一验证方案：在所述第一量子系统上执行泡利X、Y、Z测量中的X测量以获得第一测量结果，所述第二量子系统上执行与所述第一测量结果相对应的测量操作；第二验证方案：在所述第二量子系统上执行泡利X、Y、Z测量中的Y测量以获得第二测量结果，所述第一量子系统上执行与所述第二测量结果相对应的测量操作；以及第三验证方案：在所述第一量子系统和所述第二量子系统上均执行泡利X、Y、Z测量中的Z测量。