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半导体结构及其制备方法

申请号: CN202311397765.9
申请人: 北京大学
申请日期: 2023/10/25

摘要文本

本申请提供一种半导体结构及其制备方法。其中,制备方法包括:提供一衬底;在衬底上形成半导体结构,其中,半导体结构包括第一有源结构和沟道结构,第一有源结构是由沟道结构的第一端外延生长形成的;翻转衬底并去除衬底,以暴露沟道结构的第二端,第二端与第一端为所述沟道结构相对的两端;在沟道结构的第二端外延生长第二有源结构。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 半导体结构及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311397765.9
申请日 2023/10/25
公告号 CN117438470A
公开日 2024/1/23
IPC主分类号 H01L29/78
权利人 北京大学
发明人 吴恒; 王志灏; 葛延栋; 卢浩然; 王润声; 黎明; 黄如
地址 北京市海淀区颐和园路5号

专利主权项内容

1.一种半导体结构的制备方法,其特征在于,包括:提供一衬底;在所述衬底上形成半导体结构,其中,所述半导体结构包括第一有源结构和沟道结构,所述第一有源结构是由所述沟道结构的第一端外延生长形成的;翻转所述衬底并去除衬底,以暴露所述沟道结构的第二端,所述第二端与所述第一端为所述沟道结构相对的两端;在所述沟道结构的第二端外延生长第二有源结构。