一种微处理器芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质
摘要文本
本申请公开了一种微处理器芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质,包括测试子板,所述测试子板将待测微处理器芯片的引脚连接到测试底板;所述测试底板上方连接所述测试子板、下方连接T800数字测试机台的资源引出板,所述测试底板根据STM32F407IGTX芯片的引脚分布规则设置176个引脚资源,并引出连接至所述T800数字测试机台的资源引出板;所述T800数字测试机台的处理终端与待测微处理器芯片之间使用串口通信,所述串口可自动下载测试程序,对待测微处理器芯片进行直流参数、交流参数及芯片功能的测试;测试完毕后擦除待测微处理器芯片中的测试程序;其中,自动下载测试程序包括程序编辑和程序下载。 更多数据:搜索专利查询网来源:
申请人信息
- 申请人:北京中天星控科技开发有限公司
- 申请人地址:100190 北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906
- 发明人: 北京中天星控科技开发有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微处理器芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311650080.0 |
| 申请日 | 2023/12/5 |
| 公告号 | CN117632609A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 北京中天星控科技开发有限公司 |
| 发明人 | 胡文懿; 陈小波 |
| 地址 | 北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906 |
专利主权项内容
1.一种微处理器芯片的通用测试方法,其特征在于,包括测试子板,所述测试子板将待测微处理器芯片的引脚连接到测试底板;所述测试底板上方连接所述测试子板、下方连接T800数字测试机台的资源引出板,所述测试底板根据STM32F407IGTX芯片的引脚分布规则设置176个引脚资源,并引出连接至所述T800数字测试机台的资源引出板;所述T800数字测试机台的处理终端与待测微处理器芯片之间使用串口通信,所述串口可自动下载测试程序,对待测微处理器芯片进行直流参数、交流参数及芯片功能的测试;测试完毕后擦除待测微处理器芯片中的测试程序;其中,自动下载测试程序包括程序编辑和程序下载:所述程序编辑包括,微处理器芯片的测试程序和擦除程序基于keil的ARM编程语言编辑、采用keil编译器编译实现,并将测试程序和擦除程序分别输出成2个HEX文件,发送至T800数字测试机台的处理终端,所述T800数字测试机台的处理终端将2个HEX文件转换为后缀为exe的2个可执行文件并保存在固定路径位置;所述程序下载包括,将待测微处理器芯片的BOOT0引脚设为1,BOOT1引脚设为0,将NRST引脚设为0之后再设为1;实现从待测微处理器芯片的系统存储器启动引导加载程序;执行后缀为exe的可执行文件,通过串口将测试程序下载到待测微处理器芯片内部存储器FLASH中;将待测微处理器芯片的BOOT0引脚设为0,BOOT1引脚设为0,将NRST引脚设为0之后再设为1,实现测试程序从内部存储器FLASH中开始运行。