基于掺杂材料原子气室的低频电场测量装置及测量方法
摘要文本
本发明涉及一种基于掺杂材料原子气室的低频电场测量装置及测量方法，测量装置包括碱金属原子气室、探测光激光器、耦合光激光器、第一二向色镜、第二二向色镜、光电探测器和辐照光源，碱金属原子气室上设有掺杂端面。本发明，通过探测光和耦合光将碱金属原子气室内的碱金属原子激发至里德堡态，利用里德堡原子进行低频电场的测量，实现全光学的调控测量方案测量低频电场，可避免金属电极测量方法造成的干扰误差；本发明通过辐照光源照射掺杂端面，实现通过光场调控消除原子气室内的电场屏蔽效应，降低了原子气室的生产成本和加工难度。
申请人信息
- 申请人:航天恒星科技有限公司
- 申请人地址:100086 北京市海淀区知春路82号
- 发明人: 航天恒星科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于掺杂材料原子气室的低频电场测量装置及测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311583561.4 |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN117665416A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01R29/12 |
| 权利人 | 航天恒星科技有限公司 |
| 发明人 | 杜艺杰; 董涛; 吕子瑶; 金世超; 苏昱玮; 殷杰; 刘志慧; 徐月; 邸航; 何军 |
| 地址 | 北京市海淀区知春路82号 |
专利主权项内容
1.一种基于掺杂材料原子气室的低频电场测量装置，其特征在于，包括：碱金属原子气室(1)，包括相对设置的第一激光透过端面、第二激光透光端面和设置在所述第一激光透光端面与所述第二激光透过端面之间的掺杂端面(2)，所述掺杂端面(2)由半透明掺杂材料制成；所述碱金属原子气室(1)内装有碱金属蒸汽；探测光激光器(3)，用于发射探测光；耦合光激光器(4)，用于发射耦合光；第一二向色镜(5)，设置在所述第一激光透光端面的外侧，所述探测光激光器(3)与所述第一二向色镜(5)设置在所述碱金属原子气室(1)的同侧；所述第一二向色镜(5)反射所述探测光，并透射所述耦合光；第二二向色镜(6)，设置在所述第二激光透光端面的外侧，所述耦合光激光器(4)与所述第二二向色镜(6)设置在所述碱金属原子气室(1)的同侧；所述第二二向色镜(6)反射所述耦合光，并透射所述探测光；所述探测光与所述耦合光通过所述第一二向色镜(5)和所述第二二向色镜(6)反向共线，并在所述碱金属原子气室(1)内重合；光电探测器(7)，设置在所述第二二向色镜(6)的外侧，用于接收所述探测光，并光信号转化为电信号；辐照光源(8)，设置在所述碱金属原子气室(1)的外侧，照射所述掺杂端面(2)激发光生电荷。