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一种射频芯片的老化检测系统及方法

申请号: CN202311232286.1
申请人: 北京信诺达泰思特科技股份有限公司
申请日期: 2023/9/22

摘要文本

本发明涉及一种射频芯片的老化检测系统及方法,包括老化工作区模块、电源模块、检测模块、射频芯片和主控模块;射频芯片用于输出射频信号;主控模块根据预设老化检测时间分别自主控制电源模块和老化工作区模块向老化工作区模块输出电源和向射频芯片输出老化环境;检测模块检测射频信号相对应的可测量信号,并发送至主控模块;主控模块根据可测量信号生成检测结果。通过更简便的模拟出射频芯片的实际使用场景,进而对射频芯片进行老化检测并获取检测数据,解决了使用通常芯片的老化检测方式对射频芯片进行检测而导致检测不精准且检测较麻烦的问题,本发明具有高效和精准的检测射频芯片老化的效果。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种射频芯片的老化检测系统及方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311232286.1
申请日 2023/9/22
公告号 CN117368688A
公开日 2024/1/9
IPC主分类号 G01R31/28
权利人 北京信诺达泰思特科技股份有限公司
发明人 杨良春; 赵永峰; 石德宏
地址 北京市海淀区永泰庄北路9号永泰绿色生态园B-2号院1层101室

专利主权项内容

1.一种射频芯片的老化检测系统,其特征在于,包括:老化工作区模块、电源模块、检测模块、射频芯片和主控模块;所述射频芯片用于输出射频信号,所述射频芯片设于所述老化工作区模块上,所述射频信号包括射频频率、射频周期、射频功率和射频脉宽;所述主控模块根据预设老化检测时间分别自主控制所述电源模块和所述老化工作区模块向所述老化工作区模块输出电源和向所述射频芯片输出老化环境,所述老化环境包括电流信号和电压信号;所述检测模块检测所述射频信号相对应的可测量信号,并发送至所述主控模块,以使得所述主控模块根据所述可测量信号分析生成检测结果。