一种支持离线Jar包的数据元件开发调试方法和系统
摘要文本
本发明涉及数据元件开发技术领域，提供一种支持离线Jar包的数据元件开发调试方法和系统，本发明的方法包括：获取离线Jar包，通过安全扫描筛选安全的离线Jar包；通过引用和配置离线Jar包，生成待调试的元件模型；通过调试容器对生成的待调试元件模型进行调试，输出调试结果；将调试结果在建模平台中进行展示，保存经过调试的元件模型。本发明的支持离线Jar包的数据元件开发调试方法和系统，将开发者过往累计的业务沉淀，快速用于数据元件产品开发加工的能力，数据元件产品的开发人员可以直接上传编译好的离线Jar包，然后在建模平台里进行引用，极大减少了重复工作量，也大大降低了建模过程中的出错概率。。百度搜索专利查询网
申请人信息
- 申请人:中电数创(北京)科技有限公司; 中电数据产业有限公司
- 申请人地址:100044 北京市西城区西外大街136号2层1-14-299
- 发明人: 中电数创(北京)科技有限公司; 中电数据产业有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种支持离线Jar包的数据元件开发调试方法和系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311321391.2 |
| 申请日 | 2023/10/13 |
| 公告号 | CN117056240B |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 中电数创(北京)科技有限公司; 中电数据产业有限公司 |
| 发明人 | 陆志鹏; 韩光; 郑曦; 王晓亮; 国丽; 李学兵; 畅佳; 李超; 胡成盛; 胡俊 |
| 地址 | 北京市西城区西外大街136号2层1-14-299; 广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科苑路15号科兴科学园D1栋41层 |
专利主权项内容
1.一种支持离线Jar包的数据元件开发调试方法，其特征在于，所述方法包括：获取离线Jar包，通过安全扫描筛选安全的离线Jar包；通过引用和配置离线Jar包，生成待调试的元件模型，包括：在建模平台中拖入输入组件、计算组件和输出组件，并将所述输出组件与所述计算组件进行关联；通过设置所述输入组件的属性选中需要加载处理的数据资源表；通过设置所述计算组件的属性引用通过安全扫描的离线Jar包，并对所引用的离线Jar包的主程序路径和主函数入口进行配置；保存所述输出组件以及经过属性设置的输入组件和计算组件，生成待调试的元件模型；通过调试容器对生成的待调试元件模型进行调试，输出调试结果，包括：根据所述待调试的元件模型从镜像仓库中选择并启动JVM运行时环境；根据所述离线Jar包的主程序路径加载所述离线Jar包，将加载的所述离线Jar包解析成可执行Java代码；加载所述输入组件选中的数据资源表的样本数据，将加载的样本数据作为输入发送至所述可执行Java代码；根据所述离线Jar包的主函数入口执行所述Java代码，加载并处理作为输入的样本数据，获得计算结果并将所述计算结果传输至所述建模平台中的输出组件；将所述调试结果在所述建模平台中进行展示，并保存经过调试的元件模型。 关注公众号马 克 数 据 网