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物料三维形态测量系统
摘要文本
本公开提供了一种物料三维形态测量系统，包括：第一测量装置；第二测量装置；摆动装置，第二测量装置配置在摆动装置上，以使得第二测量装置能够跟随摆动装置的摆动而动作至多个角度以执行微波信号和/或激光信号的发射以及返回信号的接收；主控电路板，主控电路板分别与第一测量装置、第二测量装置和摆动装置通信连接，主控电路板包括：信号采集模块，信号采集模块能够对第一测量装置获得的图像信息和第二测量装置接收的返回信号进行采集以用于生成待测物料的最终三维形态信息；及控制模块，控制模块能够生成摆动控制信号以对摆动装置的摆动进行控制，使得摆动装置能够动作至多个角度。。来源：百度搜索专利查询网
申请人信息
- 申请人:北京锐达仪表有限公司
- 申请人地址:100744 北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号92B
- 发明人: 北京锐达仪表有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 物料三维形态测量系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311657444.8 |
| 申请日 | 2023/12/6 |
| 公告号 | CN117629105A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01B11/24 |
| 权利人 | 北京锐达仪表有限公司 |
| 发明人 | 呼秀山; 李圆圆 |
| 地址 | 北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号92B |
专利主权项内容
1.一种物料三维形态测量系统，其特征在于，包括：第一测量装置，所述第一测量装置能够对待测物料进行图像采集以获得所述待测物料的图像信息；第二测量装置，所述第二测量装置能够对所述待测物料发射微波信号和/或激光信号并接收返回信号；摆动装置，所述第二测量装置配置在所述摆动装置上，以使得所述第二测量装置能够跟随所述摆动装置的摆动而动作至多个角度以执行所述微波信号和/或激光信号的发射以及所述返回信号的接收；以及主控电路板，所述主控电路板分别与所述第一测量装置、第二测量装置和所述摆动装置通信连接，所述主控电路板包括：信号采集模块，所述信号采集模块能够对所述第一测量装置获得的所述图像信息和所述第二测量装置接收的所述返回信号进行采集以用于生成所述待测物料的最终三维形态信息；及控制模块，所述控制模块能够生成摆动控制信号以对所述摆动装置的摆动进行控制，使得所述摆动装置能够动作至所述多个角度；其中，所述第一测量装置包括多个图像采集装置以使得所述第一测量装置获得的图像信息能够用于生成所述待测物料的初始三维形态信息。