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基于紫外光诱导荧光的放射性表面污染模拟检测系统及方法
摘要文本
本发明公开了一种基于紫外光诱导荧光的放射性表面污染模拟检测系统及方法。该放射性表面污染模拟检测系统包括：放射物模拟剂，包括紫外荧光物质，用于涂抹在被测物表面模拟放射源；放射物模拟检测装置，用于检测涂抹在被测物表面的放射物模拟剂；其中，放射物模拟检测装置包括：紫外激发模块，用于照射被测物，使放射物模拟剂产生可见荧光；测距模块，与紫外激发模块适配设置，用于测量被测物与放射物模拟检测装置之间的距离；荧光收集模块，与紫外激发模块适配设置，用于收集放射物模拟剂产生的可见荧光并将其转化为电信号传递；控制处理模块，用于控制紫外激发模块、测距模块，接收处理荧光收集模块传递的电信号。
申请人信息
- 申请人:北京合鲸科技发展有限公司
- 申请人地址:100111 北京市通州区北京经济技术开发区(通州)经海五路3号院12号楼-1至6层7-101
- 发明人: 北京合鲸科技发展有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于紫外光诱导荧光的放射性表面污染模拟检测系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311370740.X |
| 申请日 | 2023/10/20 |
| 公告号 | CN117554341A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G01N21/64 |
| 权利人 | 北京合鲸科技发展有限公司 |
| 发明人 | 尚港阳; 张应红; 刘金柱; 李飞飞; 李东殊; 吴创兵 |
| 地址 | 北京市通州区北京经济技术开发区(通州)经海五路3号院12号楼-1至6层7-101 |
专利主权项内容
1.基于紫外光诱导荧光的放射性表面污染模拟检测系统，其特征在于，包括：放射物模拟剂，包括紫外荧光物质，用于涂抹在被测物表面模拟放射源；放射物模拟检测装置，用于检测涂抹在被测物表面的放射物模拟剂，识别被测物表面放射物模拟剂的种类和含量；其中，所述放射物模拟检测装置包括：紫外激发模块，用于照射所述被测物，激发所述被测物表面的放射物模拟剂，使所述放射物模拟剂产生可见荧光；测距模块，与所述紫外激发模块适配设置，用于测量所述被测物与所述放射物模拟检测装置之间的距离；荧光收集模块，与所述紫外激发模块适配设置，用于收集所述放射物模拟剂产生的可见荧光并将其转化为电信号传递；控制处理模块，用于控制所述紫外激发模块、所述测距模块，接收处理所述荧光收集模块传递的电信号。 （来源 马克数据网）