← 返回列表
芯片及芯片控制方法
摘要文本
本申请涉及一种芯片及芯片控制方法。所述芯片包括采样模块,采样模块用于接收目标芯片发送的芯片反馈时钟及输入数据,基于芯片反馈时钟确定接收时钟,基于接收时钟对所述输入数据进行采样,得到采样数据,并将采样数据发送至目标模块。其中,接收时钟和芯片反馈时钟的相位差为预设相位差,且预设相位差是根据芯片的建立时间及保持时间确定的。采用本芯片能够提高在目标芯片超频的情况下主控芯片采集数据的稳定性。
申请人信息
- 申请人:北京国科天迅科技股份有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街8号院6号楼7层701室
- 发明人: 北京国科天迅科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片及芯片控制方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311574513.9 |
| 申请日 | 2023/11/23 |
| 公告号 | CN117590897A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06F1/10 |
| 权利人 | 北京国科天迅科技股份有限公司 |
| 发明人 | 王利; 房亮; 沈少辉; 谢刚强; 刘晓娟; 周永忠; 张雄波; 何斌 |
| 地址 | 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街8号院6号楼7层701室 |
专利主权项内容
1.一种芯片,其特征在于,包括采样模块,其中,所述采样模块,用于接收目标芯片发送的芯片反馈时钟及输入数据,基于所述芯片反馈时钟确定接收时钟,基于所述接收时钟对所述输入数据进行采样,得到采样数据,并将所述采样数据发送至目标模块;其中,所述接收时钟和所述芯片反馈时钟的相位差为预设相位差,所述预设相位差是根据所述芯片的建立时间及保持时间确定的。 来源:马 克 数 据 网