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一种基于TGS透射实验的ADMM-GMRES改进算法的评估方法及系统
摘要文本
本发明公开了一种基于TGS透射实验的ADMM‑GMRES改进算法的评估方法及系统，涉及核材料非破坏性分析技术领域，包括：构建多个透射测量模型；引入ADMM算法和ADMM‑GMRES改进算法进行TGS透射实验，得到图像重建结果，记录两种算法的衰减系数重建值及对应的相对误差值对改进算法进行评估；同时对两种算法下的图像重建结果进行样条插值处理，以得到并根据投射测量模型在两种算法下的投射重建图像对ADMM‑GMRES改进算法进行评估；根据两个评估结果得到最终改进算法的评估结果。本方法通过TGS透射实验在稀疏角度下测量得到的投影数据，验证改进算法是否可以实现高精度图像重建以及提高图像重建的收敛速度。 （来源 专利查询网）
申请人信息
- 申请人:成都理工大学工程技术学院; 核工业西南物理研究院
- 申请人地址:614000 四川省乐山市市中区肖坝路222号
- 发明人: 成都理工大学工程技术学院; 核工业西南物理研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于TGS透射实验的ADMM-GMRES改进算法的评估方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311355793.4 |
| 申请日 | 2023/10/17 |
| 公告号 | CN117409097A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G06T11/00 |
| 权利人 | 成都理工大学工程技术学院; 核工业西南物理研究院 |
| 发明人 | 颜瑜成; 李秋研; 王小灿; 惠鸿博; 刘明哲; 高中正; 左卓 |
| 地址 | 四川省乐山市市中区肖坝路222号; 四川省成都市双流西南航空港黄荆路5号 |
专利主权项内容
1.一种基于TGS透射实验的ADMM-GMRES改进算法的评估方法，其特征在于，包括以下步骤：构建多个透射测量模型；基于多个投射测量模型，引入ADMM算法和ADMM-GMRES改进算法进行TGS透射实验，以得到对应两种算法下的图像重建结果，并记录各个投射测量模型中两种算法在介质填充位置的衰减系数重建值及对应的相对误差值；根据各个投射测量模型中两种算法在介质填充位置的衰减系数重建值及对应的相对误差值对ADMM-GMRES改进算法进行评估，生成第一评估结果；分别对两种算法下的图像重建结果进行样条插值处理，以得到并根据各个投射测量模型在上述两种算法下的投射重建图像对ADMM-GMRES改进算法进行评估，生成第二评估结果；根据第一评估结果和第二评估结果得到最终的ADMM-GMRES改进算法评估结果。