基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统
摘要文本
本发明涉及先进非金属材料技术,具体公开了基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统,包括呈环形的外框架和检测单元,所述检测单元包括同轴设置在外框架内的环形检测架,所述环形检测架的上部通过滑动机构与外框架滑动连接,且所述环形检测架以其圆心位置处为基准自上而下分为第一半环和第二半环,所述第一半环的内环面等距设有多个图像采集装置,在所述第二半环的内环面等距设有多个补充光源,且多个所述图像采集装置和多个补充光源一一对应,通过多个所述图像采集装置对微晶玻璃面板的表面图像进行获取,实现了在对微晶玻璃面板进行输送的同时,对其表面进行缺陷检测,因此极大的减少了检测工序,并缩短了检测工时,使其效率更高。
申请人信息
- 申请人:四川领先微晶玻璃有限公司
- 申请人地址:638600 四川省广安市华蓥市华蓥山经开区玉兰大道(思坦木业旁)
- 发明人: 四川领先微晶玻璃有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311509599.7 |
| 申请日 | 2023/11/14 |
| 公告号 | CN117517348A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G01N21/958 |
| 权利人 | 四川领先微晶玻璃有限公司 |
| 发明人 | 陈德柱; 沈尚勇; 周陈义; 徐良岛 |
| 地址 | 四川省广安市华蓥市华蓥山经开区玉兰大道(思坦木业旁) |
专利主权项内容
1.基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统,包括呈环形的外框架(1)和检测单元,其特征在于,所述检测单元包括同轴设置在外框架(1)内的环形检测架(10),所述环形检测架(10)的上部通过滑动机构(4)与外框架(1)滑动连接,且所述环形检测架(10)以其圆心位置处为基准自上而下分为第一半环和第二半环,所述第一半环的内环面等距设有多个图像采集装置(100),在所述第二半环的内环面等距设有多个补充光源(101),且多个所述图像采集装置(100)和多个补充光源(101)一一对应,通过多个所述图像采集装置(100)对微晶玻璃面板(5)的表面图像进行获取,多个所述补充光源(101)用于在图像采集装置(100)获取微晶玻璃面板(5)的表面图像时,对微晶玻璃面板(5)进行光源照射,以实现图像采集装置(100)在采集微晶玻璃面板(5)图像时进行补光,从而便于采集的图像更加清晰;所述检测单元还包括设置在外框架(1)上并与多个图像采集装置(100)信号连接的图像识别处理模块,所述图像识别处理模块用于接收图像采集装置(100)传输而来的微晶玻璃面板(5)的表面图像信息,并基于该表面图像信息对微晶玻璃面板(5)的缺陷进行检测识别;所述外框架(1)的底部还设有底座(2),在所述底座(2)的上部还设有运输架(20),所述运输架(20)为矩形框架结构,在所述运输架(20)的内部沿其长度方向设有多组用于输送微晶玻璃面板(5)的输送辊(21),多组所述输送辊(21)的两端均通过转轴与运输架(20)转动连接,且多组输送辊(21)之间均存在间隙,所述外框架(1)位于其中一个间隙内,且外框架(1)的圆心位置处与输送辊(21)处于统一水平面,所述外框架(1)的底部与底座(2)相连接,且所述运输架(20)的内部一侧安装有驱动机构,所述驱动机构包括用于驱动多组输送辊(21)转动的动力单元(220),以及与动力单元(220)传动连接、并用于带动环形检测架(10)在外框架(1)内进行转动的传动单元(221)。