一种芯片内串行数据溢出校验方法

摘要文本

本发明公开了一种芯片内串行数据溢出校验方法，涉及集成电路技术领域，包括：在芯片内移位寄存器的数据输出侧增加数据溢出监测电路，当产生串行数据传输过采样，串行数据的最后一帧进入移位寄存器时，使帧头数据产生数据溢出进入到数据溢出监测电路；数据溢出监测电路执行两种清零操作：一是通过清零控制线2向移位寄存器发出清除信号，移位寄存器丢掉当前正在传输的数据；二是通过清零控制线1向接收移位寄存器数据的并行锁存器发出清零信号，如果有误校验的数据进入到并行锁存器，则被数据溢出监测电路强制清零。本发明可以在物理层上检测识别错位通信码，无需通过软件规避，降低串行数据通信中寄存器数据抓取错误，提高了数据传输可靠性。