← 返回列表
芯片插座安装接触电阻测试装置及方法
摘要文本
本发明实施例公开的芯片插座安装接触电阻测试装置及方法，涉及半导体测试技术领域，包括：测试主板，至少布设有第一走线、第二走线及第三走线；测试基板，至少布设四个管脚，并通过第四走线互联，所述第三管脚与第四管脚通过第五走线互联；芯片插座，位于测试主板和测试基板之间；测量分析单元，与所述第一走线与第三走线的第二端分别连接，并配置为向所述第一走线发送测试信号，并经由第三走线传输返回测试信号来测试所述第一端子至第四端子的接触电阻。本发明便于测量出芯片插座端子的安装接触电阻，可以在一定程度上评估出芯片插座端子的接触状态，适用于芯片插座端子测试场景中。
申请人信息
- 申请人:海光信息技术(成都)有限公司
- 申请人地址:610095 四川省成都市高新区府城大道西段399号7栋2单元10楼1002号
- 发明人: 海光信息技术(成都)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片插座安装接触电阻测试装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311441158.8 |
| 申请日 | 2023/10/31 |
| 公告号 | CN117491738A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01R27/02 |
| 权利人 | 海光信息技术(成都)有限公司 |
| 发明人 | 杨晓君; 袁飞; 徐宾; 陈杰 |
| 地址 | 四川省成都市高新区府城大道西段399号7栋2单元10楼1002号 |
专利主权项内容
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：测试主板，包括测试分区，所述测试分区至少布设有第一走线、第二走线及第三走线；测试基板，至少布设有第一管脚、第二管脚、第三管脚及第四管脚，所述第一管脚与第二管脚通过第四走线互联，所述第三管脚与第四管脚通过第五走线互联；芯片插座，位于测试主板和测试基板之间，并包括依次设置的第一端子、第二端子、第三端子及第四端子；其中，所述第一端子的第一端与所述第一走线的第一端连接，所述第一端子的第二端与所述第一管脚连接；所述第二端子的第一端与所述第三端子的第一端通过所述第二走线连接，所述第二端子的第二端与所述第二管脚连接，所述第三端子的第二端与所述第三管脚连接，所述第四端子的第一端与所述第三走线的第一端连接，所述第四端子的第二端与所述第四管脚连接；测量分析单元，与所述第一走线与第三走线的第二端分别连接，并配置为向所述第一走线发送测试信号，并经由第三走线传输返回测试信号来测试所述第一端子至第四端子的接触电阻。 关注公众号马克数据网