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一种定量相位成像方法及装置
摘要文本
专利查询网 。本发明公开一种定量相位成像方法及装置，涉及光学显微成像技术领域。该方法包括：搭建基于物镜、准直透镜、空间光调制器和图像传感器的光学显微系统；利用激光照射待测样品，经过物镜和准直透镜后入射到空间光调制器上；设计一组互补二值随机抽样屏，并依次加载到空间光调制器的抽样面上；依次记录待测样品的物波波前在图像传感器的记录面上的强度图样；采用互补二值随机抽样算法从强度图样中恢复待测样品的复振幅信息。本发明能够高质量、快速、精确地实现高分辨定量相位成像。
申请人信息
- 申请人:山东理工大学
- 申请人地址:255000 山东省淄博市张店区新村西路266号
- 发明人: 山东理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种定量相位成像方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311785404.1 |
| 申请日 | 2023/12/25 |
| 公告号 | CN117631246A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G02B21/00 |
| 权利人 | 山东理工大学 |
| 发明人 | 满忠胜; 王本义; 刘泊辰; 王钊; 韩克祯; 魏功祥; 付圣贵 |
| 地址 | 山东省淄博市张店区新村西路266号 |
专利主权项内容
1.一种定量相位成像方法，其特征在于，所述定量相位成像方法包括：搭建基于物镜、准直透镜、空间光调制器和图像传感器的光学显微系统；利用激光照射待测样品，经过物镜和准直透镜后入射到空间光调制器上；设计一组互补二值随机抽样屏，并依次加载到空间光调制器的抽样面上；依次记录待测样品的物波波前在图像传感器的记录面上的强度图样；采用互补二值随机抽样算法从强度图样中恢复待测样品的复振幅信息。