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光伏封装胶膜的测试方法
摘要文本
本公开涉及一种光伏封装胶膜的测试方法，该方法包括：对第一层压结构取样并检测目标参数，得到第一层压结构中的预处理的第一封装胶膜的第一参数值；第一层压结构由第一面板、第一离型膜、第一封装胶膜、第二离型膜及第二面板层叠并层压形成；预处理包括恒温预处理或高低温循环预处理；对第二层压结构取样并检测目标参数，得到第二层压结构中未预处理的第二封装胶膜的第二参数值；第二层压结构由第三面板、第三离型膜、第二封装胶膜、第四离型膜及第四面板层叠并层压形成；根据第一参数值及第二参数值，确定封装胶膜的参数衰减测试结果。通过本公开的测试方法，能够快速验证光伏封装胶膜关键性能指标并及时识别其可靠性风险。 来自：马 克 团 队
申请人信息
- 申请人:天合光能股份有限公司
- 申请人地址:213031 江苏省常州市新北区天合光伏产业园天合路2号
- 发明人: 天合光能股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光伏封装胶膜的测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311388743.6 |
| 申请日 | 2023/10/25 |
| 公告号 | CN117451977A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G01N33/44 |
| 权利人 | 天合光能股份有限公司 |
| 发明人 | 高纪凡; 蒋忠伟; 吴汝玲; 方舟; 李立凡; 王乐 |
| 地址 | 江苏省常州市新北区天合光伏产业园天合路2号 |
专利主权项内容
1.一种封装胶膜的测试方法，其特征在于，所述方法包括：对第一层压结构取样并检测目标参数，得到所述第一层压结构中的预处理的第一封装胶膜的第一参数值；其中，所述第一层压结构由第一面板、第一离型膜、所述预处理的第一封装胶膜、第二离型膜及第二面板层叠并层压形成；预处理包括恒温预处理或高低温循环预处理；对第二层压结构取样并检测目标参数，得到所述第二层压结构中未预处理的第二封装胶膜的第二参数值；其中，所述第二层压结构由第三面板、第三离型膜、所述未预处理的第二封装胶膜、第四离型膜及第四面板层叠并层压形成；并且根据所述第一参数值及所述第二参数值，确定封装胶膜的参数衰减测试结果。