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跟踪支架老化测试方法和装置
摘要文本
本发明提供了一种跟踪支架老化测试方法和装置，其中方法包括接收跟踪支架预设时间内需要老化的老化圈数；采集跟踪支架从测试开始至当前时刻的各个时刻的跟踪角度；根据所述跟踪角度计算跟踪支架的当前运动圈数；判断所述当前运动圈数是否大于等于所述老化圈数，如果是，则结束老化测试，将测试结果设置为完成。本发明根据跟踪角度计算跟踪支架的当前运动圈数，根据当前运动圈数与预设的老化圈数判断老化测试是否完成，准确性高。
申请人信息
- 申请人:天合光能股份有限公司
- 申请人地址:213031 江苏省常州市新北区天合光伏产业园天合路2号
- 发明人: 天合光能股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 跟踪支架老化测试方法和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311293691.4 |
| 申请日 | 2023/10/8 |
| 公告号 | CN117367771A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G01M13/00 |
| 权利人 | 天合光能股份有限公司 |
| 发明人 | 徐国鹏; 全鹏; 孙凯; 唐宗耀; 董伟; 廖格兵; 黄国昆; 奚润开; 任宇霄; 陈伊雯 |
| 地址 | 江苏省常州市新北区天合光伏产业园天合路2号 |
专利主权项内容
1.一种跟踪支架老化测试方法，其特征在于，包括：接收跟踪支架预设时间内需要老化的老化圈数；采集跟踪支架从测试开始至当前时刻的各个时刻的跟踪角度；根据所述跟踪角度计算跟踪支架的当前运动圈数；判断所述当前运动圈数是否大于等于所述老化圈数，如果是，则结束老化测试，将测试结果设置为完成。