可编程按键的应用质量检测方法及系统
摘要文本
本申请提供了可编程按键的应用质量检测方法及系统,涉及质量检测技术领域,所述方法包括:获取使用习惯信息,然后通过编程测试单元进行随机编程,获取多个第一编程位置,计算获得第一适用分数,进行反馈舒适度分析和按键反馈灵敏度分析,计算获得第一适用度,和第二适用度,进行按键优化输出最大适用度,通过质量分析单元分析获得质量检测结果。本申请主要解决了人工检测方式易受主观因素影响,往往只针对某一性能进行检测,缺乏对可编程按键综合性能的全面检测,还对环境适应性测试的考虑不足,无法全面模拟实际使用环境。能够快速、准确地检测可编程按键的质量,提高了检测效率,避免了人工检测的误差。
申请人信息
- 申请人:扬州市职业大学(扬州开放大学)
- 申请人地址:225000 江苏省扬州市文昌西路458号
- 发明人: 扬州市职业大学(扬州开放大学)
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 可编程按键的应用质量检测方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311582671.9 |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN117591354A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 扬州市职业大学(扬州开放大学) |
| 发明人 | 陈久松 |
| 地址 | 江苏省扬州市文昌西路 |
专利主权项内容
1.可编程按键的应用质量检测方法,其特征在于,所述方法应用于一可编程键盘的应用质量检测装置,所述装置包括编程测试单元、按键反馈测试单元、质量分析单元,所述方法包括:获取当前进行可编程键盘使用的使用习惯信息,其中,所述使用习惯信息包括预设数量的多个按键功能和多个应用度信息;通过编程测试单元,对所述多个按键功能在所述可编程键盘内进行随机编程,获得多个第一编程位置,根据所述多个第一编程位置,计算获得第一适用分数;通过按键反馈测试单元,基于所述多个第一编程位置,进行按键反馈舒适度分析和按键反馈灵敏度分析,获得多个第一反馈舒适度和多个第一反馈灵敏度,并结合所述多个应用度信息,计算获得第一按键分数,结合所述第一适用分数,计算获得第一适用度;继续对所述多个按键功能在所述可编程键盘内进行编程,获得多个第二编程位置,并处理获取第二适用度;继续进行多个按键功能的编程和优化,直到达到预设编程条件,输出适用度最高的多个最优编程位置以及最大适用度;通过质量分析单元,根据优化获得所述多个最优编程位置的优化速度,结合所述最大适用度,分析获得当前所述可编程键盘的质量检测结果。