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半轴齿轮精密尺寸测量装置及测量方法
摘要文本
本发明公开了一种半轴齿轮精密尺寸测量装置及测量方法，该半轴齿轮包括半轴部和齿轮部，该装置包括：高度测量机构，其用于测量半轴齿轮的齿轮部高度；直径测量机构，其用于测量半轴齿轮的半轴部的直径；升降机构，其用于带动高度测量机构沿Z轴方向进行升降；进给座，其上设置有用于安装半轴齿轮的定位座；进给驱动机构，其用于带动进给座沿水平方向进行直线运动；旋转驱动机构，其用于驱动定位座在进给座上绕Z轴进行旋转；数据处理模块，其用于根据高度测量机构和直径测量机构的测量数据分析得到半轴齿轮的尺寸测量结果；以及控制模块。本发明能够实现半轴齿轮半轴部直径及齿轮部高度的同时、自动化检测，可以提高检测效率和检测精度。
申请人信息
- 申请人:无锡恩梯量仪科技有限公司
- 申请人地址:214142 江苏省无锡市新吴区梅村街道梅育路117号2号厂房一楼
- 发明人: 无锡恩梯量仪科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 半轴齿轮精密尺寸测量装置及测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311544538.4 |
| 申请日 | 2023/11/20 |
| 公告号 | CN117663997A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01B11/06 |
| 权利人 | 无锡恩梯量仪科技有限公司 |
| 发明人 | 张浩; 吴锁杰; 吴英杰 |
| 地址 | 江苏省无锡市新吴区梅村街道梅育路117号2号厂房一楼 |
专利主权项内容
1.一种半轴齿轮精密尺寸测量装置，该半轴齿轮包括半轴部和齿轮部，其特征在于，包括：高度测量机构，其用于测量半轴齿轮的齿轮部高度，该高度指齿轮部的上表面与下表面之间的距离；直径测量机构，其用于测量半轴齿轮的半轴部的直径；升降机构，其用于带动所述高度测量机构沿Z轴方向进行升降；进给座，其上设置有用于安装半轴齿轮的定位座；进给驱动机构，其用于带动所述进给座沿水平方向进行直线运动，以将所述定位座上的半轴齿轮输送至检测工位上进行齿轮部高度和半轴部直径的测量；旋转驱动机构，其用于驱动所述定位座在所述进给座上绕Z轴进行旋转；数据处理模块，其用于根据高度测量机构和直径测量机构的测量数据分析得到半轴齿轮的尺寸测量结果；以及控制模块，其对升降机构、进给驱动机构以及旋转驱动机构进行控制。