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一种电容可调的SGT IGBT结构及制备方法

申请号: CN202311772446.1
申请人: 江苏易矽科技有限公司; 江苏捷捷微电子股份有限公司
申请日期: 2023/12/21

摘要文本

本发明涉及半导体器件技术领域,具体说是一种电容可调的SGT IGBT结构及制备方法。它包括半导体衬底,半导体衬底的正面有源区内设置有若干个元胞。元胞中至少有一个深沟槽作为SGT IGBT的栅极,深沟槽两侧有离子注入区与第一接触孔结构。其特点是,元胞的深沟槽下部有第一多晶硅填充区,深沟槽的上部含有三个填充多晶硅的浅沟槽。第一多晶硅填充区用于与IGBT的发射极相连,浅沟槽中的多晶硅用于与IGBT的栅极或发射极相连。采用该结构实现了绝缘栅双极型晶体管输入电容、反馈电容的调节,也实现沟道密度的调节。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种电容可调的SGT IGBT结构及制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311772446.1
申请日 2023/12/21
公告号 CN117712156A
公开日 2024/3/15
IPC主分类号 H01L29/739
权利人 江苏易矽科技有限公司; 江苏捷捷微电子股份有限公司
发明人 郭亚楠; 陈宏; 黄健; 叶士杰; 刘洋; 刁绅; 皮彬彬
地址 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A2栋14层(东侧); 江苏省南通市启东市经济开发区钱塘江路3000号

专利主权项内容

1.一种电容可调的SGTIGBT结构,包括具有第一导电类型的半导体衬底,半导体衬底的正面有源区内设置有若干个元胞;所述元胞中至少有一个深沟槽作为SGTIGBT的栅极,深沟槽两侧有离子注入区与第一接触孔结构;其特征在于,所述元胞的深沟槽下部有第一多晶硅填充区,深沟槽的上部含有三个填充多晶硅的浅沟槽,浅沟槽间呈依次并排布置,第一多晶硅填充区与深沟槽侧壁之间、第一多晶硅填充区和浅沟槽内多晶硅之间、浅沟槽内多晶硅与深沟槽侧壁之间、浅沟槽内多晶硅之间均有氧化物隔离;所述第一多晶硅填充区用于与IGBT的发射极相连;所述浅沟槽中的多晶硅用于与IGBT的栅极或发射极相连。。关注公众号马克数据网