基于多尺度残差UNet分割的芯片姿态检测方法

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本发明公开了基于多尺度残差UNet分割的芯片姿态检测方法，属于数字图像处理技术领域。本发明提出了一种多级位姿检测算法；对于位姿变化较大的芯片，提出了一种基于SVM分类器的显著性位姿检测方法，对于位姿变化较小的芯片，提出一种基于显著特征点的精定位方法，计算其与料盘关键点的相对距离以实现微小位姿检测。此外，还提出了一种轻量化多尺度残差UNet语义分割网络MR‑UNet，实现了变位姿下不同尺度芯片与料盘的精准分割，将复杂表观的彩喷芯片图像统一，仅保留轮廓。试验结果表明，本发明的检测准确率达到99.804％，具备良好的鲁棒性和实时性，能够满足工业现场大批量生产的要求。