一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法

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本发明涉及材料反射率测试技术领域，具体涉及一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法。包括如下步骤：步骤S1：对漫反射测试参数进行设置；步骤S2：在测试端口放置标准样品，即冠状低反射标准漫反射板，进行基线扫描和校零；步骤S3：取下冠状低反射标准漫反射板，放置测试样品，即涂覆低反射光吸收层的冠状零件进行测试；步骤S4：测得的数据，再乘以冠状零件的校准数据值，所得结果即为样品的反射漫数据；步骤S5：数据处理采用全谱段取算术平均值，即在400nm～1100nm的波长范围内，每隔5nm取反射率值，计算算术平均值来表征光吸收层的漫反射率。本发明可以相对计算出大角度入射情况下光吸收层的漫反射率，有利于表征入射光在入射角0°～60°时的漫反射情况。