一种RFID芯片灵敏度测试方法及系统
摘要文本
本发明公开了一种RFID芯片灵敏度测试方法及系统，本发明涉及RFID芯片技术领域，解决了未将外部设备所产生的信号噪声以及未将阅读器因障碍物折射所产生的本信号噪声的干扰考虑在内的问题，本发明为了确认其RFID芯片的灵敏度测试参数，采用信号增强的方式，来确定波形，通过分析对应周期波形段内其RFID是否产生应答，而不是在整个波形测试内对应答信号进行接收，从而确定其灵敏度测试值，采用此种方式，便可直接锁定对应RFID所产生的灵敏度测试参数，还可充分避免障碍物以及自身信号所造成的影响，提升其测试精度。
申请人信息
- 申请人:江苏科睿坦电子科技有限公司
- 申请人地址:214500 江苏省泰州市靖江经济开发区纬一路83号
- 发明人: 江苏科睿坦电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种RFID芯片灵敏度测试方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311478694.5 |
| 申请日 | 2023/11/8 |
| 公告号 | CN117517926A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 江苏科睿坦电子科技有限公司 |
| 发明人 | 孙斌; 何健 |
| 地址 | 江苏省泰州市靖江经济开发区纬一路83号 |
专利主权项内容
1.一种RFID芯片灵敏度测试系统，其特征在于，包括：频率调整端，对阅读器的信号发生频率进行实时调整，每个阶段的频率差值均相同，其中频率差值为预设值；相位图记录端，对不同信号发生频率下阅读器所产生的信号相位图以及RFID芯片所接收的信号相位图进行记录，并将其划分至同一频率区间内，不同的信号相位图进行不同形式的标记，阅读器所产生的信号相位图赋值1，RFID芯片所接收的信号相位图赋值0；波形初筛端，对不同频率区间内赋值0的若干个信号相位图进行提取，优先对信号相位图内部的转折点进行确定，在确定转折点之间的间距，识别此信号相位图是否为规律波；频率锁定端，对存在规律波的频率区间进行接收，将同一频率区间内的两组信号相位图进行参数分析，从而锁定差值最小的一组频率区间，将此频率区间作为测试区间；主测试端，根据所接收的测试区间，将阅读器的信号发生频率调整至测试区间范围内，并限定一组增强周期T，在每组增强周期T结束时，进行信号增强，信号发生后，确定RFID芯片的接收信号，并将实时产生的接收信号传输至波形分析端内；应答监测端，实时监测RFID芯片，当RFID芯片产生应答时，则将应答信号传输至波形分析端内；波形分析端，对接收信号进行波形分析，并确定接收信号波形相位图，锁定内部的凸出改变点位，随后截取波形，锁定此波形对应时间段是否产生应答信号，随后根据应答时间点，确定RFID芯片的灵敏度测试参数。