一种电子元器件耐高温测试装置
摘要文本
本发明涉及电子器件技术领域，具体涉及一种电子元器件耐高温测试装置，包括放置板，所述放置板的内壁开设有四个均匀分布的第一滑槽，其中两个所述第一滑槽的内壁两侧均开设有均匀分布的第一卡槽，所述放置板的内壁滑动连接有若干呈对称分布的第三滑杆，所述第一轴杆的外壁固定连接有摇杆，所述第一轴杆的外壁固定连接有缠绕筒，所述第一轴杆的外壁滑动连接有第二齿轮，所述第二齿轮的外壁啮合有除胶装置。该一种电子元器件耐高温测试装置通过设置固定装置使得可以对探头端部与电线进行固定，防止装置在转移过程中受到拉扯，探头与电子元器件脱离，且在固定过程中可以对探头外壁残留的胶体进行刮除，避免测试结果不准等情况发生。
申请人信息
- 申请人:淮安顺络文盛电子有限公司
- 申请人地址:223001 江苏省淮安市淮安区经济开发区山阳大道62号
- 发明人: 淮安顺络文盛电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种电子元器件耐高温测试装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311457579.X |
| 申请日 | 2023/11/3 |
| 公告号 | CN117491781A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 淮安顺络文盛电子有限公司 |
| 发明人 | 赵卫北; 黄敬新; 谢爽; 张俊锋 |
| 地址 | 江苏省淮安市淮安区经济开发区山阳大道62号 |
专利主权项内容
1.一种电子元器件耐高温测试装置，包括放置板(1)，其特征在于：所述放置板(1)的内壁开设有四个均匀分布的第一滑槽(3)，其中两个所述第一滑槽(3)的内壁两侧均开设有若干均匀分布的第一卡槽(7)，所述放置板(1)的内壁分别滑动连接有第一限位板(2)和第二限位板(4)和第三限位板(5)和第四限位板(6)，所述放置板(1)的外壁均固定连接有第二固定板(17)和第一固定板(11)，所述放置板(1)的外壁滑动连接有四个均匀分布的固定装置，所述固定装置包括两个均匀分布的第三固定板(23)，每个所述第三固定板(23)均与放置板(1)滑动连接，每个所述第三固定板(23)的两侧外壁均开设有两个均匀分布的第四卡槽(37)，所述放置板(1)的内壁滑动连接有若干呈对称分布的第三滑杆(38)，每个所述第三滑杆(38)远离第三固定板(23)的一端均固定连接有弹簧(39)，每个所述弹簧(39)远离第三固定板(23)的一端均与放置板(1)的内壁固定连接，每个所述第三固定板(23)的内壁均转动连接有第一轴杆(28)，所述第一轴杆(28)的外壁固定连接有摇杆(29)，所述第一轴杆(28)的外壁固定连接有缠绕筒(24)，所述第一轴杆(28)的外壁滑动连接有第二齿轮(27)，所述第二齿轮(27)的外壁啮合有除胶装置。。数据由马 克 团 队整理