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一种金属丝垂直导电胶ACS测试设备及其使用方法

申请号: CN202311506663.6
申请人: 苏州微飞半导体有限公司
申请日期: 2023/11/14

摘要文本

本发明公开了一种金属丝垂直导电胶ACS测试设备及其使用方法,涉及导电胶测试技术领域,包括电路板,所述电路板顶端固定安装有安装基板,所述安装基板顶端两侧分别固定安装有承载框,调节组件,所述调节组件活动连接在左侧承载框的内腔前侧上,所述调节组件包括转动轴一,所述转动轴一活动连接在左侧承载框的内腔前侧上。本发明通过设置的调节组件,能间歇通过驱动转动轴二进而使得摩擦滚轮一带动导电胶进给固定的距离,进而保证在进行芯片测试时芯片测试位和工作位处于正对状态,避免出现因芯片测试位与工作位未正对导致芯片测试结果不准确的情况,使得后续还需要花费时间进行再一次的测试,增加了工作强度和工作时间。 来自马-克-数-据

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种金属丝垂直导电胶ACS测试设备及其使用方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311506663.6
申请日 2023/11/14
公告号 CN117554779A
公开日 2024/2/13
IPC主分类号 G01R31/28
权利人 苏州微飞半导体有限公司
发明人 邬松; 周艳萍; 李楠
地址 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区苏虹西路99号第3幢B区407-1室

专利主权项内容

1.一种金属丝垂直导电胶ACS测试设备,包括电路板(1),其特征在于:所述电路板(1)顶端固定安装有安装基板(2),所述安装基板(2)顶端两侧分别固定安装有承载框(3);调节组件(5),所述调节组件(5)活动连接在左侧承载框(3)的内腔前侧上,所述调节组件(5)包括转动轴一(56),所述转动轴一(56)活动连接在左侧承载框(3)的内腔前侧上;进给组件(6),所述进给组件(6)活动设置在承载框(3)内腔,所述进给组件(6)包括转动轴二(61),所述转动轴二(61)活动连接在左侧承载框(3)的内腔后侧上;测试组件(7),所述测试组件(7)固定安装在承载框(3)顶端,所述测试组件(7)包括安装架(71),两个所述承载框(3)顶端分别与安装架(71)的两端固定安装。