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数据块的校验方法和装置、存储介质及电子设备
摘要文本
本申请实施例提供了一种数据块的校验方法和装置、存储介质及电子设备，其中，该方法包括：在单板管理控制器加载配置分区对应的目标文件的情况下，确定与单板管理控制器关联的闪存空间对应的空间划分信息；根据空间划分信息确定闪存空间中用于存储目标文件的第一分区；使用目标文件的文件系统格式对第一分区中的数据块进行校验，得到第一校验结果，即通过在写入目标文件前对应的存储分区进行校验，从而提前确定分区的坏块情况，提升了对软件BUG，导致某一分区过度使用导致Flash颗粒损坏的检测效率，可以解决相关技术中，在每次升级或者BMC重启时出现的Flash颗粒硬失效的情况时，对于配置分区的异常处理缓慢且处理效率低的问题。
申请人信息
- 申请人:苏州元脑智能科技有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
- 发明人: 苏州元脑智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 数据块的校验方法和装置、存储介质及电子设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311820665.2 |
| 申请日 | 2023/12/27 |
| 公告号 | CN117472291B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G06F3/06 |
| 权利人 | 苏州元脑智能科技有限公司 |
| 发明人 | 张中云; 朱绍霞 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢 |
专利主权项内容
1.一种数据块的校验方法，其特征在于，包括：在单板管理控制器加载配置分区对应的目标文件的情况下，确定与所述单板管理控制器关联的闪存空间对应的空间划分信息；根据所述空间划分信息确定所述闪存空间中用于存储所述目标文件的第一分区；使用所述目标文件的文件系统格式对所述第一分区中的数据块进行校验，得到第一校验结果；其中，所述使用所述目标文件的文件系统格式对所述第一分区中的数据块进行校验，得到第一校验结果之后，所述方法还包括：在第一校验结果指示所述第一分区中的数据块通过校验的情况下，确定持续加载所述目标文件到所述第一分区中；在所述第一校验结果指示所述第一分区中的数据块未通过校验的情况下，对所述第一分区添加禁止加载所述目标文件的第一标记；其中，所述第一分区的大小与所述目标文件对应数据需要的分区大小对应，所述第一分区为多个闪存空间对应的划分子分区组成。。详见官网：