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一种液晶器件动态反射率的测试系统及方法
摘要文本
本发明公开了一种液晶器件动态反射率的测试方法,包括激光器、液晶器件、光电探测器、驱动器和立体分束器,液晶器件背板芯片上填充有液晶并用上玻璃盖板固定,立体分束器放置在液晶器件和激光器之间,立体分束器侧边固定有光电探测器;本发明通过驱动器依次加载不同的灰度图至液晶器件,光电探测器分别记录不同灰度图所对应的液晶器件反射光强度序列,从而得到液晶器件不同灰度状态下的动态反射率;本发明在没有增加光路结构,得到更接近于实际应用场景的液晶器件反射率,能够表征出液晶器件工作时,由于液晶器件处于不同的工作电压状态下,液晶的折射率发生改变所引起的反射光强度的变化,该测试方法使得液晶器件反射率更接近实际应用场景。
申请人信息
- 申请人:剑芯光电(苏州)有限公司
- 申请人地址:215127 江苏省苏州市吴中区苏州工业园区兴浦路200号联东U谷双创中心15#101、201
- 发明人: 剑芯光电(苏州)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种液晶器件动态反射率的测试系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311849573.7 |
| 申请日 | 2023/12/29 |
| 公告号 | CN117572677A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G02F1/13 |
| 权利人 | 剑芯光电(苏州)有限公司 |
| 发明人 | 李昆; 龙震; 杨诗怡; 李雪锋; 杨海宁 |
| 地址 | 江苏省苏州市吴中区苏州工业园区兴浦路200号联东U谷双创中心15#101、201 |
专利主权项内容
1.一种液晶器件动态反射率的测试系统,其特征在于,包括激光器(1)、液晶器件(2)、光电探测器(3)、驱动器(4)和立体分束器(5),液晶器件背板芯片(13)上填充有液晶(12)并用上玻璃盖板(11)固定,立体分束器(5)放置在液晶器件(2)和激光器(1)之间,立体分束器(3)侧边固定有光电探测器(3);驱动器(4)与液晶器件(2)相连接,给液晶器件背板芯片(13)和上玻璃盖板施加电压;在测试时,需要激光器(1)发射出的激光先通过标准反射镜(6)由光电探测器(3)接收作为参考光强度,再移去标准反射镜(6),激光通过液晶器件(2)进行动态反射率测试。