一种芯片测试载具及具有其的芯片测试设备及方法

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本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片测试载具，包括：载具板，所述载具板的上端开设有若干组放置异形孔，所述放置异形孔的内部安装有芯片本体；所述载具板的两侧均设置有卡合部件一，所述载具板的内部还设置有上卡合部件，所述载具板的内部还设置有控温机构；本发明通过设置的载具板和芯片测试设备配合使用，能够对待检测的多组芯片本体进行安装固定，使其保持稳定不易在测试时发生移动，避免影响测试结果，且在将载具板和支撑平台进行安装的同时，即可实现快捷对芯片本体安装固定，操作简单，通过设置的控温机构，能够进行控温，有利于测试不同温度环境下的芯片，使用范围较广，有利于多组芯片测试。