← 返回列表

一种启动校验系统、方法、电子设备及存储介质

申请号: CN202311744963.8
申请人: 苏州元脑智能科技有限公司
申请日期: 2023/12/18

摘要文本

本申请提供了一种启动校验系统、方法、电子设备及存储介质。所述系统应用于计算设备,包括:第一校验模块和第二校验模块,所述第一校验模块内添加有第一密钥,所述第二校验模块内添加有第二密钥,其中,所述第一校验模块设置于所述计算设备的物理信号控制芯片的数据传输总线上,以在启动所述计算设备时,对所述计算设备的物理信号控制芯片进行安全校验;所述第二校验模块设置于所述计算设备器的所有CPU的数据传输总线上,以在启动所述计算设备时,对所有所述CPU进行安全校验。本申请可以提高计算设备启动的安全可靠性。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种启动校验系统、方法、电子设备及存储介质
专利类型 发明授权
申请号 CN202311744963.8
申请日 2023/12/18
公告号 CN117436090B
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G06F21/57
权利人 苏州元脑智能科技有限公司
发明人 孙秀强; 成珊; 朱慧蓉; 刘佩雨
地址 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

专利主权项内容

1.一种启动校验系统,其特征在于,应用于计算设备,所述系统包括:BMC、第一校验模块和第二校验模块,所述第一校验模块内添加有第一密钥,所述第二校验模块内添加有第二密钥,其中,所述第一校验模块设置于所述计算设备的物理信号控制芯片的数据传输总线上,以在启动所述计算设备时,对所述计算设备的物理信号控制芯片进行安全校验,所述第二校验模块与所述物理信号控制芯片通信连接;所述第二校验模块设置于所述计算设备的所有CPU的数据传输总线上,所述BMC以在启动所述计算设备时,读取所述物理信号控制芯片的第一密钥,以对所述物理信号控制芯片进行安全校验,并在所述物理信号控制芯片校验成功之后,依次读取并校验所有所述CPU的第二密钥;所述第一校验模块和所述第二校验模块均为校验芯片,所述第一密钥添加于所述第一校验模块内的预设程序中,所述第二密钥添加于所述第二校验模块内的预设程序中。