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一种冗余磁盘阵列巡检方法、装置、设备、介质

申请号: CN202311813271.4
申请人: 苏州元脑智能科技有限公司
申请日期: 2023/12/27

摘要文本

本发明涉及冗余磁盘阵列技术领域,公开了一种冗余磁盘阵列巡检方法、装置、设备、介质,该方法通过确定与磁盘巡检请求对应的磁盘编号与校验算法,利用扩展柜计算第一异或值,以及利用控制器计算第二异或值,从而通过第一异或值与第二异或值,确定磁盘巡检结果。这一过程中,通过磁盘编号与每个扩展柜的对应关系,以对应扩展柜计算第一异或值是以扩展柜作为运算主体,计算对应扩展柜内相应磁盘的第一异或值,以及以控制器作为另一运算主体,计算控制器内相应磁盘的第二异或值,从而通过扩展柜计算自身所包含的磁盘的异或值,避免巡检过程中控制器与扩展柜中各磁盘的数据读写,通过合并回传数据减少传输的数据量,提升整体性能。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种冗余磁盘阵列巡检方法、装置、设备、介质
专利类型 发明授权
申请号 CN202311813271.4
申请日 2023/12/27
公告号 CN117472287B
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G06F3/06
权利人 苏州元脑智能科技有限公司
发明人 朱红玉
地址 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

专利主权项内容

1.一种冗余磁盘阵列巡检方法,其特征在于,应用于冗余磁盘阵列,所述冗余磁盘阵列包括控制器与至少一个扩展柜,所述控制器与每个所述扩展柜均具有磁盘,所述方法包括:响应于磁盘巡检请求,确定与所述磁盘巡检请求对应的磁盘编号与校验算法;通过所述磁盘编号与每个所述扩展柜的对应关系,基于所述磁盘编号与所述校验算法,以对应扩展柜计算第一异或值;基于所述磁盘编号与所述校验算法,以所述控制器计算第二异或值;基于所述第一异或值与所述第二异或值,确定磁盘巡检结果;所述通过所述磁盘编号与每个所述扩展柜的对应关系,基于所述磁盘编号与所述校验算法,以对应扩展柜计算第一异或值,包括:基于第一磁盘编号,计算第一磁盘地址;基于所述校验算法,确定对应磁盘首个子块的第一编号;基于所述第一磁盘编号与所述第一编号,计算对应磁盘的空间分布,确定对应磁盘的第一磁盘子块编号;基于所述第一磁盘地址与所述第一磁盘子块编号,利用扩展柜,计算第一异或值;所述基于所述磁盘编号与所述校验算法,以所述控制器计算第二异或值,包括:基于第二磁盘编号,计算第二磁盘地址;基于所述校验算法,确定对应磁盘首个子块的第二编号;基于所述第二磁盘编号与所述第二编号,计算对应磁盘的空间分布,确定对应磁盘的第二磁盘子块编号;基于所述第二磁盘地址与所述第二磁盘子块编号,利用控制器,计算第二异或值。