← 返回列表
检测对位方法、装置、计算机设备和存储介质
摘要文本
本申请涉及一种检测对位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。其方法通过目标相机识别目标对象的第一特征点,获取第一特征点的第一三维信息,根据第一三维信息确定第一空间平面,并使第一空间平面与预设的第一平面垂直,然后识别目标对象的第二特征点,获取第二特征点的第二三维信息,根据第二三维信息确定第二空间平面,并使第二空间平面与预设的第二平面垂直,再次识别目标对象的第三特征点,获取第三特征点的第三三维信息,进而将目标特征点的高度调整为预设高度,以对齐目标相机的图像中心点与目标对象的光学中心点,从而确保相机图像中心与目标对象光学中心两个点的高度差在很小的范围,实现三维高精度地对齐。
申请人信息
- 申请人:苏州华兴源创科技股份有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
- 发明人: 苏州华兴源创科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 检测对位方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311338331.1 |
| 申请日 | 2023/10/17 |
| 公告号 | CN117409076A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G06T7/73 |
| 权利人 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 发明人 | 任将; 李宇杰 |
| 地址 | 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号 |
专利主权项内容
1.一种检测对位方法,其特征在于,所述方法包括:通过目标相机识别目标对象的第一特征点,获取所述第一特征点的第一三维信息,所述第一特征点包括三个;根据所述第一三维信息确定第一空间平面,调整所述第一空间平面,以使所述第一空间平面与预设的第一平面垂直;通过所述目标相机识别所述目标对象的第二特征点,获取所述第二特征点的第二三维信息,所述第二特征点包括三个;根据所述第二三维信息确定第二空间平面,调整所述第二空间平面,以使所述第二空间平面与预设的第二平面垂直;通过所述目标相机识别所述目标对象的第三特征点,获取所述第三特征点的第三三维信息;根据所述第三三维信息将目标特征点的高度调整为预设高度,以对齐所述目标相机的图像中心点与所述目标对象的光学中心点。