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伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路
摘要文本
本发明公开了一种伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路，所述伪随机测试参数生成方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值；重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数。本发明通过重复使用前一次扫描链电路的输出值以及位级变换操作，自动生成扫描链电路的伪随机数输入参数，它代替真正的随机数不仅可以模拟实际应用中可能出现的各种输入情况，从而增加测试的覆盖率；而且还能提高测试的自动化程度、减少人工干预、提高测试效率。。来自：马 克 团 队
申请人信息
- 申请人:芯弦半导体(苏州)有限公司
- 申请人地址:215124 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园G2-701
- 发明人: 芯弦半导体(苏州)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311824185.3 |
| 申请日 | 2023/12/28 |
| 公告号 | CN117607666A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G01R31/3183 |
| 权利人 | 芯弦半导体(苏州)有限公司 |
| 发明人 | 石国城 |
| 地址 | 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园G2-701 |
专利主权项内容
1.一种伪随机测试参数生成方法，其特征在于，所述伪随机测试参数生成方法应用于扫描链电路中，所述方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值；重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数。 数据由马 克 数 据整理