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一种存储器芯片用的测试装置及方法
摘要文本
本发明涉及一种存储器芯片用的测试装置及方法, 包括：测试台，测试台的顶部开设有转动槽，转动槽的内部转动安装有测试转盘，测试转盘上开设有多个芯片槽，测试转盘外周侧开设有活塞管，活塞管上安装有活塞杆。本发明通过启动液压缸带动上盖板向下移动，当其向下移动到与活塞杆接触时下压活塞杆向活塞筒内部移动，此时从连接管对芯片槽内进行吹气，实现自动吹气清洁效果，当上盖板移动至导杆位置时，导杆插入到连接槽内，伸缩块向伸缩槽内部移动，并且脱离连接孔，转动板绕着铰接点进行转动，第三弹簧复位让活塞杆插入到插槽内，此时活塞杆将芯片槽内的空气孔连接管中抽入到活塞筒内，芯片槽内处于一个相对真空的环境，此时对芯片进行测试。。来源：专利查询网
申请人信息
- 申请人:法特迪精密科技(苏州)有限公司
- 申请人地址:215126 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202
- 发明人: 法特迪精密科技(苏州)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器芯片用的测试装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311147463.6 |
| 申请日 | 2023/9/7 |
| 公告号 | CN117434419A |
| 公开日 | 2024/1/23 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 |
| 发明人 | 金永斌; 王强; 贺涛; 丁宁; 朱伟 |
| 地址 | 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202 |
专利主权项内容
1.一种存储器芯片用的测试装置, 其特征在于，包括：测试台(1)，所述测试台(1)的顶部开设有转动槽(11)，所述转动槽(11)的内部转动安装有测试转盘(12)，所述测试转盘(12)上开设有多个芯片槽(13)，所述测试转盘(12)外周侧开设有活塞管(2)，所述活塞管(2)上安装有活塞杆(21)，所述活塞杆(21)与所述活塞管(2)内底壁之间安装有伸缩弹簧(22)，所述活塞管(2)的一侧连通有连通管(23)，所述转动槽(11)的内侧壁开设有侧槽(14)，所述连通管(23)延伸至所述侧槽(14)内；调节架(3)，所述调节架(3)固定在所述测试台(1)一侧，所述调节架(3)的一侧滑动安装有上盖板(31)，所述上盖板(31)用于封闭所述芯片槽(13)上端开口(16)，其中所述上盖板(31)向下移动时，所述上盖板(31)压缩所述活塞杆(21)从所述侧槽(14)处向所述芯片槽(13)吹气。 关注公众号马克数据网