一种移样装置
摘要文本
本发明涉及取样技术领域，特别涉及一种移样装置，包括调距组件、变距组件、多个取样组件和定位机构。调距组件横向设置于工作台，变距组件滑动连接于调距组件，多个取样组件滑动连接于变距组件，定位机构连接于取样组件与变距组件之间，使取样组件相对于变距组件可控地锁紧或释放。取样组件与变距组件相对滑动，使各取样组件分别位于变距组件上的预设位置，并在定位机构的作用下相互锁紧固定，从而实现各取样组件间的变距。变距组件滑动连接调距组件，便于取样组件移动整体至不同工位。本发明以简单结构满足了取样组件变距和移动的需求。
申请人信息
- 申请人:苏州英诺威视半导体设备有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市工业园区东长路88号N1幢8楼801室
- 发明人: 苏州英诺威视半导体设备有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种移样装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311642048.8 |
| 申请日 | 2023/12/4 |
| 公告号 | CN117361133B |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | B65G47/91 |
| 权利人 | 苏州英诺威视半导体设备有限公司 |
| 发明人 | 周强 |
| 地址 | 江苏省苏州市工业园区东长路88号N1幢8楼801室 |
专利主权项内容
1.一种移样装置，其特征在于，包括：调距组件(4)，横向设置于工作台；变距组件(1)，设置于所述调距组件(4)，且沿所述调距组件(4)可控地滑动；取样组件(2)，设置多个，均滑动连接于所述变距组件(1)且相互齐平设置，所述取样组件(2)相对于所述变距组件(1)具有纵向的自由度；定位机构(3)，设置于所述取样组件(2)与所述变距组件(1)之间，用于使所述取样组件(2)相对于所述变距组件(1)可控地锁紧或释放，所述定位机构(3)包括锁紧组件(31)和释放组件(34)；所述锁紧组件(31)包括设置于所述变距组件(1)的多个限位区(321)和设置于所述取样组件(2)的锁紧件(322)，所述锁紧件(322)包括限位端(3243)，所述限位端(3243)适应于所述限位区(321)，且限位于所述限位区(321)内；所述释放组件(34)包括第一推板(341)，所述第一推板(341)可控地上升，推动所述锁紧件(322)使所述锁紧件(322)的所述限位端(3243)从上方离开所述限位区(321)，所述变距组件(1)沿所述调距组件(4)可控地滑动，且所述第一推板(341)水平位置不变，使所述取样组件(2)到达所述变距组件(1)上预设位置，所述第一推板(341)归位，使所述锁紧件(322)的所述限位端(3243)锁紧于位于所述预设位置的所述限位区(321)，使所述取样组件(2)转移并锁紧于所述变距组件(1)上的所述预设位置。 来自：